更新時(shí)間:2023-08-18
夜視設(shè)備測(cè)試設(shè)備NV系列高技術(shù)測(cè)試系統(tǒng)支持夜視設(shè)備的專業(yè)化測(cè)試評(píng)估。如下圖所示,一系列9種測(cè)試系統(tǒng)(NVT,NV14,NVS,N20,N2D,NCLIP,NIG,NICOM以及NIMAX) 支持市場(chǎng)上所有夜視設(shè)備的測(cè)試,NV系列測(cè)試設(shè)備可以分為兩組:A)非計(jì)算機(jī)控制測(cè)試系統(tǒng);B)計(jì)算機(jī)控制測(cè)試系統(tǒng)。
夜視設(shè)備測(cè)試設(shè)備參數(shù):
類型 | NVT | NVS | NV14 | NV20 | NIG | N2D |
NVD | 雙目夜視設(shè)備 單目夜視設(shè)備 | 不大于150mm光學(xué)系統(tǒng)的夜視設(shè)備 | 雙目夜視設(shè)備 單目夜視設(shè)備 | 雙目夜視設(shè)備 單目夜視設(shè)備 | 所有類型 | 潛望式雙目夜視設(shè)備 |
NVS | ———— | 雙目夜視設(shè)備 單目夜視設(shè)備 | 不大于70mm光學(xué)系統(tǒng)的夜視設(shè)備 | ———— |
| ———— |
布局構(gòu)造 | 垂直 | 水平 | 垂直 | 水平 | 垂直 | 水平 |
設(shè)計(jì)理念 | 緊湊型立式系統(tǒng) | 可更換平行光管的模塊化測(cè)試站 | 緊湊型立式系統(tǒng) | 緊湊型立式系統(tǒng) | 緊湊型立式系統(tǒng) | 緊湊型立式系統(tǒng) |
測(cè)試范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)MIL測(cè)試范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)MIL測(cè)試范圍 | 標(biāo)準(zhǔn)MIL測(cè)試范圍 | 基礎(chǔ)測(cè)試 | 亮度增益電耗測(cè)試 | 基礎(chǔ)測(cè)試 |
夜視設(shè)備測(cè)試設(shè)備NICOM 測(cè)試系統(tǒng)優(yōu)化設(shè)計(jì)于測(cè)試夜視鏡(雙目及單目)以及視場(chǎng)約40°的單目夜視鏡,然而,NICOM
測(cè)試系統(tǒng)也可以用于測(cè)試視場(chǎng)大于40°的夜視監(jiān)控設(shè)備/ 雙目夜視鏡。
NICOM 測(cè)試系統(tǒng)支持測(cè)試或檢測(cè)以下一系列的參數(shù),基本可以分為以下六組:
1. 典型測(cè)試:分辨率(中心,邊緣,高電平),熒光屏質(zhì)量(暗點(diǎn)),亮度增益,視場(chǎng)
2. 維修測(cè)試:操作缺陷(陰影,邊緣光,閃耀,發(fā)射點(diǎn)等等);外觀缺陷(暗點(diǎn),亮點(diǎn),固定圖形噪聲,
雞線,輸出亮度飽和度,圖像畸變等)
3. 雙目測(cè)試: 準(zhǔn)直誤差,增益偏差
4. 可擴(kuò)展測(cè)試: 小可分辨對(duì)比度(MRC), 放大率及EBI(等效背景照度)(可選)
5. 電子學(xué)測(cè)試: 功耗,電流等
6. 先進(jìn)性測(cè)試: MTF(調(diào)至傳遞函數(shù)), SNR(信噪比)
NICOM 測(cè)試系統(tǒng)支持測(cè)試結(jié)果記錄以及被測(cè)試夜視設(shè)備生成的圖像的記錄,專業(yè)的軟件支持在電腦屏幕
中同時(shí)進(jìn)行多種被測(cè)試NVDs 的記錄。