2014基地手机在线看片你懂得,影音先锋SSNI,亚洲?日韩?欧美?国产专区97,1024你懂的2024视频国产,木耳手机在线视频,美女爽到高潮的尖叫
設(shè)為首頁
|
收藏本站
24小時(shí)服務(wù)熱線:13379509417
首頁
公司簡介
公司新聞
產(chǎn)品中心
技術(shù)文章
榮譽(yù)資質(zhì)
在線留言
聯(lián)系我們
產(chǎn)品中心
光電探測器
點(diǎn)元探測器
MCT探測器
短波線陣探測器
探測器模塊
APD探測器
四象限探測器
雙色探測器
波蘭vigo元器件
銻化銦探測器
硒化鉛探測器
硫化鉛探測器
銦鎵砷探測器
鍺探測器
硅探測器
碳化硅探測器
短波焦平面探測器
高品質(zhì)相機(jī)
德國AVT短波紅外相機(jī)
英國Raptor公司EMCCD相機(jī)
韓國NIP工業(yè)相機(jī)
科研級(jí)CCD相機(jī)
X-ray相機(jī)
紫外相機(jī)
CMOS相機(jī)/sCMOS/ICMOS相機(jī)
科研級(jí)EMCCD相機(jī)
進(jìn)口短波紅外相機(jī)
短波紅外相機(jī)
激光測距系列
voxtel激光測距儀
激光測距模組
激光測距InGaAs APD探測器
1.5um固體脈沖激光器
通用測試測量儀器設(shè)備
輻射計(jì)
黑體
美國MACKEN公司功率計(jì)
光學(xué)傳遞函數(shù)
相機(jī)、熱像儀等測試設(shè)備
微區(qū)拉曼、PL光譜及附件
數(shù)字型功率計(jì)
CO2激光波長計(jì)
專用測試設(shè)備
大口徑平行光管
全自動(dòng)定焦系統(tǒng)
多譜段激光光斑空間分布
紅外靈敏度測試系統(tǒng)
紅外導(dǎo)引、控制測試系統(tǒng)
告警能力/探測概率測試
便攜式整機(jī)光學(xué)性能測試
野外便攜式多光軸平行校正
大口徑平行光管測試儀
電視紅外圖像跟蹤性能檢測
紅外光學(xué)及成像測試系統(tǒng)
激光膜層損傷閾值測試系統(tǒng)
激光探測線性性能檢測裝置
多光譜多光軸測試系統(tǒng)
目標(biāo)模擬器
多功能動(dòng)態(tài)目標(biāo)模擬器
紅外目標(biāo)模擬器
激光模擬器
便攜式紅外目標(biāo)模擬器
紅外圖像目標(biāo)模擬器
紅外點(diǎn)源、干擾目標(biāo)模擬器
目標(biāo)模擬器
光纖滑環(huán)
光電組合滑環(huán)
多通道光纖滑環(huán)
雙通道光纖滑環(huán)
微型光纖滑環(huán)
單通道光纖滑環(huán)
微光管
倍增管PMT
GEN2+像增強(qiáng)器管
0代管
光學(xué)鏡頭及附件
光學(xué)鏡頭
THz系列
TK絕對(duì)THz功率計(jì)
THz功率計(jì)
THz時(shí)域光譜儀
THz相機(jī)
THz超快探測器
紅外熱像儀及組件
西班牙NIT相機(jī)
中波非制冷相機(jī)
雙波段紅外熱像儀
快速成像高靈敏度熱像儀
高幀速紅外熱像儀
中、長波制冷型熱像儀
長波制冷型熱像儀
中波制冷型熱像儀
當(dāng)前位置:
首頁
>
技術(shù)文章
>短波紅外相機(jī)的應(yīng)用領(lǐng)域,知道的人少之又少!
技術(shù)文章
短波紅外相機(jī)的應(yīng)用領(lǐng)域,知道的人少之又少!
短波紅外相機(jī)
是一種科學(xué)的超高性能陣列相機(jī)。它使用探測器作為短波紅外圖像傳感器,并配有讀取電路。相機(jī)可以結(jié)合短波紅外光譜更好地識(shí)別被觀察物體的特征。它可用于食品和藥物成分分析、藥物填充、文物、書畫鑒定等領(lǐng)域,已廣泛應(yīng)用于醫(yī)療領(lǐng)域、農(nóng)業(yè)和食品工業(yè)等多個(gè)領(lǐng)域。
短波紅外相機(jī)的應(yīng)用領(lǐng)域:
1、工業(yè)生產(chǎn)線的食品檢測:利用短波紅外的特性穿透塑料,檢測包裝食品是否完整和破損。
2、紙質(zhì)鑒定:短波紅外可用于文物鑒定、書畫鑒定、文物保護(hù)修復(fù)等,主要利用短波紅外穿透涂料而非石墨。
3、液位檢測:液位監(jiān)測主要利用短波紅外水的吸收特性和塑料的滲透特性。
4、穿透性樹脂:短波紅外可以檢測銀行卡、電話卡和存儲(chǔ)卡等內(nèi)部芯片是否存在裂縫和缺陷。
短波紅外相機(jī)
具有體積小、重量輕、功耗低、幀率高、靈敏度高等優(yōu)點(diǎn)。它還具有板載圖像處理功能,并支持PAL系統(tǒng)模擬視頻同步輸出。通過圖像處理功能,您可以設(shè)置幀速率選擇、同步模式選擇、單點(diǎn)校正、兩點(diǎn)校正、對(duì)比度/亮度調(diào)整、噪聲消除、增強(qiáng)、圖像選擇、圖像模式、測試圖像、壞點(diǎn)替換、自檢功能、加載十字線、設(shè)置信息保存等方面,并編輯圖像。
為了在半導(dǎo)體檢測相機(jī)應(yīng)用中進(jìn)行故障分析,制造的集成電路可以通過顯微鏡檢查裂紋或光子發(fā)射。三維MEMS微機(jī)電系統(tǒng)結(jié)構(gòu)需要在整個(gè)生產(chǎn)過程中進(jìn)行檢查。對(duì)于所有這些應(yīng)用,提供范圍廣泛的SWIR短波紅相機(jī),用于二維(2D)和線掃描成像。
更新更新時(shí)間:2023-02-16
上一篇
短波紅外在晶圓鍵合中的應(yīng)用
下一篇
看看這篇文章,了解下MCT探測器的工作原理
13379509417
聯(lián)系方式
劉丹
86-029-81778987-205
在線客服
用心服務(wù) 成就你我